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5. Etage, Helen International Building, 778 Baoshan Road, Hongkou, Shanghai
Shanghai Giant Technologie Co., Ltd.
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二硒化锆晶体 ZrSe2 (Zirkoniumselenid)
晶体尺寸:~8毫米
电学性能:半导体
晶体结构:六边形
晶胞参数: a = b = 0,377, c = 0,614 nm, α = β = 90°, γ = 120°
晶体类型:合成
晶体纯度: >99.995%

Röntgenbeugung auf einem entlang der Ebene (001) ausgerichteten ZrSe2-Einkristall. XRD wurde bei Raumtemperatur mit einem D8 Venture Bruker durchgeführt. Die 4 XRD-Spitzen entsprechen von links nach rechts (00l) mit l = 1, 2, 3, 4

Pulver-Röntgenbeugung (XRD) eines Einzelkristalls ZrSe2. Die Röntgenbeugung wurde bei Raumtemperatur mit einem D8 Venture Bruker durchgeführt.

Stöchiometrische Analyse eines Einzelkristalls ZrSe2 durch Energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDX).

Raman-Spektrum eines Einzelkristalls ZrSe2. Die Messung wurde mit einem 785 nm Raman-System bei Raumtemperatur durchgeführt.