Hitachi Elektronenmikroskop TM4000/TM4000Plus

VerhandlungsfähigAktualisieren am07/10

Modell

Natur des Herstellers: Hersteller

Produktkategorie

Ursprungsort

Online Beratung

Übersicht

Produktdetails

Hitachi Desktop Elektroskop Produkteinführung：

Das einzigartige Niedervakuumsystem des Hitachi TM4000 Scannelektroskops ermöglicht eine schnelle Beobachtung der Probe ohne Bearbeitung. Der TM4000 Optimizer bietet drei verschiedene Beobachtungsmodi bei 5kV, 10kV und 15kV, bei denen der Strom jeweils in vier Richtungen einstellbar ist, und ist mit vier Segmenten Rückstreuungsdetektoren ausgestattet, die Bildinformationen in vier verschiedenen Richtungen erfassen und Proben in mehreren Mustern bilden können. Mit der neuen SEM-MAP-Navigationsfunktion können Elektroskopbilder in Berichtsform exportiert werden. Ausgestattet mit einem großen Probenhaus, das den maximalen Probendurchmesser von 80 mm und die Dicke von 50 mm aufnimmt.

Die TM4000Plus ist die Ergänzung der hochempfindlichen Niedervakuum-Sekundärelektronensonde UVD auf der Grundlage der TM4000, die eine gute Bildqualität in einer Niedervakuumumgebung bietet. Das TM4000Plus überlagert und zeigt in Echtzeit sekundäre und rückverteilte elektronische Bilder, um maximale Probeninformationen zu erhalten. Optionales Zubehör mit vielen zusätzlichen Funktionen.

Hauptparameter：

Beobachtungsbedingungen: 5kV / 10kV / 15kV (alle vier Gange einstellbar), EDX

Vergrößerung: 10× ~ 100.000×

Beobachtungsmodus: Leiter (TM4000Plus), Standardmodus, Ladungsentfernungsmodus

4. Detektor: 4 Teile Rückstreuungsdetektor, Niedervakuum Sekundärelektronik-Detektor (TM4000Plus)

Leistungsbereich:

Testprojekte Test Item	Dienstleistungsbereich Scope
Mikroskopische Formbeobachtung	Beobachtung und Analyse des angegebenen Bereichs und der angegebenen Form der Probe gemäß den Anforderungen des Kunden10,000doppelt; Kann keine Flüssigkeiten und flüchtige Substanzen testen
Elementaranalyse	Messbereich/Genauigkeit: Li3~Cf98 Anwendungsbereich: Polymere, Metalle, anorganische Stoffe, Pulver usw.; qualitativ halbquantitativ; Kann keine Flüssigkeiten und flüchtige Substanzen testen
Schnittanalyse	1. Beobachtung der gebrochenen Probe mit einem optischen Mikroskop und einem Scan-Elektronenmikroskop 2. Haupturteil über die Methode des Bruchs(Zähigkeit, Zerbrechlichkeit)Rissquelle, Ausdehnungsrichtung usw. 3. Der Bericht enthält Bruchbilder und Analyseergebnisse, kann jedoch die Ursache des Bruches nicht ermitteln
Fehleranalyse von Fremdkörpern	Metallkorrosionsproduktanalyse Qualitative Analyse von Metallbeschichtungen Analyse von Fremdstoffen durch Medienverschmutzung
Qualitative Analyse der Beschichtungsdicke und der Zusammensetzung	Für teilweise Vakuum galvanisiert0.8μmFolgende Schichtdicke, durchgeführtSEMDickenprüfung für höchste Auflösung0.01μmAnalyse der Komponenten von Scan-Linien mit mehreren Schichten

Anwendungsbereiche：

Lebenswissenschaften

Materialwissenschaften

Chemie

Elektronikherstellung

Nahrungsmittelindustrie

Ähnliches Produkt Empfehlen