Hitachi UV-VIS-NIR UV/sichtbares/nahes Infrarot Spektrophotometer UH4150

Eigenschaften:

Beim Schalten der Detektorwellenlänge entstehen kleine Signaldifferenzen, so dass der UH4150 auch so eine hochpräzise Messung ermöglicht.

Mehrere Detektoren, die auf der Integralkugel installiert sind, können im UV-sichtbaren und nahen Infrarot-Wellenlängenbereich gemessen werden. Durch den Einsatz von Hitachi-spezialisierten Technologien zur Integralkugelstruktur und zur Signalverarbeitung werden die Änderungen der Absorptionswerte beim Schalten des Detektors (Unterschiede im Signalpegel) auf gering reduziert.

Hitachis leistungsstarkes Prisma-Raster-Dual-Monochrome-System ermöglicht geringe Diffusion und geringe Polarisation.

UH4150 verwendet ein optisches System mit Prisma-Raster (P-G) Dual Monochrome, das die Eigenschaften des U-4100 optischen Systems einhält. Das Prisma-Raster-System (P-G) ändert sich im Vergleich zu den gängigen Raster-Raster-Systemen (G-G) nicht viel an der polarisierten Lichtintensität von S und P. Selbst bei Proben mit niedriger Durchlässigkeit und Reflexivität ermöglicht der UH4150 eine geräuscharme Messung.

Parallelstrahlen ermöglichen eine genaue Messung von reflektiertem und gestreutem Licht.

Der Eintrittswinkel ist für die Messung der Spiegelreflexivität von festen Proben sehr wichtig. Da der Eintrittswinkel im Zusammenhang mit Faktoren wie der Brennweite der Linse unterschiedlich ist, unterscheiden sich die simulierten Konstruktionswerte für optische Folien wie leitfähige Mehrschichtfolien und Prismen von den tatsächlichen Messwerten.

Aber für den parallelen Strahl ist der Eintrittswinkel in Bezug auf die Probe immer der gleiche, was eine hochpräzise Messung der Spiegelreflexivität ermöglicht. Darüber hinaus können parallele Strahlen zur Beurteilung der Diffusionsrate (Nebel) und zur Bestimmung der Linsendurchlässigkeit verwendet werden.

Es gibt eine Vielzahl von Detektoren für verschiedene Messzwecke.

Es können acht verschiedene Materialien, Größen und Formen verwendet werden. *2*3

Neues ergonomisches Design.

Verbesserung der Probenraumtüren und Verbesserung der Betriebsfähigkeit. Um den Austausch von Proben und Zubehör zu erleichtern, wurde ein ergonomisches Design verwendet.

Kompatibel mit einer Vielzahl von U-4100 Zubehören.

Universelles Zubehör ist für beide Modelle verfügbar. Zubehör des Typs U-4100 ist auch für den Typ UH4150*4 verfügbar, da das Zubehör abnehmbar ist und für weitere Messtypen geeignet ist.

Höherer Probenfluss als U-4100.

Bei der hohen Leistung des U-4100 bietet der UH4150 eine höhere Durchflussmessung. Bei der Messung eines vorherigen Modells in einem 1 nm Datenintervall muss die Scangeschwindigkeit 600 mm/min betragen. Der Typ UH4150 kann in einem Abstand von 1 nm bei einer Scangeschwindigkeit von 1200 nm/min gemessen werden, was die Messzeit erheblich verkürzt. *5UH4150 kann von 240 nm bis 2.600 nm in ca. 2 Minuten gemessen werden. Besonders geeignet für Proben, die im UV-sichtbaren und nahen Infrarot-Wellenlängenbereich gemessen werden müssen, wie z. B. solarreflektierende Materialien.

Systemproduktlinie:

Integriertes Kugeldetektionssystem

Es können verschiedene 60 mm Punktkugeln verwendet werden. Optionales Zubehör: 150 mm Integralkugel oder kontinuierlich variierbares absolutes Reflexionszubehör (hier sind Standard-Integralkugeln von 60 mm aufgeführt).

Direktlichtdetektionssystem

Der Direktlichtdetektor ist im Spektrophotometer integriert. Ersatz für Direktlichtdetektoren werden zusätzliche optionale Detektoren angeboten, wie z. B. eine Vielzahl von Integralkugeln und kontinuierlich variierbaren Winkeln absoluter Reflexionszubehör.

Spezifikationen