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135-0001-7008180-7108-0982
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Zimmer 1016-1017, Guangzhou, Guangzhou
Guangzhou Yide Präzisionswissenschaftliche Instrumente Co., Ltd.
135-0001-7008180-7108-0982
Zimmer 1016-1017, Guangzhou, Guangzhou
Kleine Punkte-Energie-Diffusion-Röntgenfluorescenz (ED-XRF) Spektrometer für Edelmetallprüfungen optimiert.
Marktanerkannter Standard für die Analyse von Edelmetallelementen
Über 30 Elementsorten, umfangreiche Fabrikkalibrierung für optimale Genauigkeit bei Spuren- und Hauptbestandteilprüfungen
Verkürzung der Messzeit um ein Drittel: Wählen Sie zwischen überlegenen Ergebnissen mit herkömmlichen Messzeiten oder überlegenen Testzeiten
Die Genauigkeit der Elementanalyse ist oft sehr wichtig – vor allem bei der Bewertung von Edelmetallen. Bei anderen Anwendungen ist Geschwindigkeit noch wichtiger: Prüfzentren mit hohem Probenvolumen erfordern eine schnelle und genaue Analyse. Darüber hinaus wünschen sich alle Anwender, dass der Analyzer robust, bequem und einfach zu bedienen ist und mit Hilfssoftware ausgestattet ist, die die Ergebnisse einfach in das Labornetzwerk übertragen kann. Bei der Verarbeitung von Edelmetallen schätzen die Anwender natürlich auch die nicht zerstörerische Probenahme.
Seit Jahren bietet SPECTRO MIDEX in all diesen Bereichen eine extrem zuverlässige und erstklassige XRF-Leistung. Es ist der Branchenstandard für viele Analyselabore weltweit. Die fünfte Generation der SPECTRO MIDEX-Analysatoren ist doppelt so empfindlich wie die Vorgängergeneration, genauer als die Feuerprüfmethode und mit viel höherer Geschwindigkeit und einfacher Bedienung. Es ist für Edelmetallanwendungen optimiert.
Der neue kompakte SPECTRO MIDEX-Analyzer integriert die neuesten Entwicklungen der ED-XRF-Detektortechnik mit hoher Zählrate und hoher Auflösung. Diese intelligenten Innovationen machen ihn zu einem der fortschrittlichsten mittleren Labor-XRF-Desktop-Analysatoren im Bereich der Edelmetallprüfung. Der Kunde kann sich daher entscheiden, die Genauigkeit deutlich zu verbessern, auch bei geringen Mengen oder Spurenelementen; Oder die Testgeschwindigkeit erheblich zu beschleunigen, um die Anforderungen einer großen Menge an Proben zu erfüllen.