Japanisches Fluoreszenzspektrometer ZSX Primus IV

Mit dem oberen Beleuchtungsdesign müssen Sie sich keine Sorgen über die Verschmutzung des Lichtweges, die Reinigung von Problemen und die Erhöhung der Reinigungszeit machen. Sammeln Sie die Vorteile aller ZSX-Serien zusammen: Doppelvakuumsystem, automatische Vakuumregelung, Mapping/Mikrozonenanalyse, extreme Empfindlichkeit für ultraleichte Elemente und automatische Kernreinigung. ZSX PrimusIV ermöglicht die flexible Analyse komplexer Proben. 30 μm ultradünne Fensterröhre, die die Empfindlichkeit der Analyse von leichten Elementen gewährleistet. Die modernsten Mapping-Pakete erkennen Homogenität und Zwischenstoffe. Der ZSX Primus IV ist für die Herausforderungen des 21. Jahrhunderts ausgerüstet

Funktionen Analysebereich:

Be-U Kleinere Fläche Mikrozonenanalyse Oberlichtgestaltung 30 μm ultradünne FensterMapping: Elementsverteilung He Dichtung: Probenraum ist immer im Vakuum

ZSX Primus IV

Rigaku ZSX Primus IV ist ein Röntgenfluorescenz-Spektrometer mit kontinuierlicher Wellenlänge-Diffusion (WDXRF) über eine Röhre, mit dem die primären und sekundären Atomelemente in Beryllium (Be) bis Uran (U) schnell quantitativ bestimmt werden können.

Neue XRF-Software für ZSX-Führungssysteme

Der ZSX-Leitfaden unterstützt alle Aspekte der XRF-Messung und Datenanalyse. Kann eine genaue Analyse nur von Experten durchgeführt werden? Nein, das ist Vergangenheit. Die ZSX Guidance Software verfügt über eingebaute XRF-Expertise und erfahrene Expertise für den Umgang mit komplexen Einstellungen. Der Bediener muss einfach grundlegende Informationen über die Probe, die analysierte Komponente und die Standardzusammensetzung eingeben. Die Messlinien mit minimaler Überlappung, optimalem Hintergrund und Korrekturparametern (einschließlich Linienüberlappung) können mittels des Massenspektrums automatisch eingestellt werden.

Ausgezeichnete leichte XRF-Leistung mit Umkehroptik für überlegene Zuverlässigkeit

Der ZSX Primus IV verfügt über die oben genannte innovative Optik. Durch die Wartung des Probenraums müssen Sie sich keine Sorgen mehr über einen verschmutzten Strahlweg oder Ausfallzeiten machen. Die Geometrie über den optischen Elementen beseitigt Reinigungsprobleme und verlängert die Nutzungszeit. Das ZSX Primus IV WDXRF Spektrometer bietet hervorragende Leistung und Flexibilität bei der Analyse der komplexesten Proben mit einem 30-Mikrometer-Rohr, dem dünnsten Endfensterrohr der Industrie, das eine hervorragende Erkennungsgrenze für leichte Elemente (Low Z) bietet.

Karte- und Multipoint-XRF-Analyse

In Kombination mit modernsten Kartierungsverpackungen zur Ermittlung von Homogenität und Umhüllung ermöglicht der ZSX Primus IV eine einfache und detaillierte XRF-Spektrometrie der Probe, um analytische Erkenntnisse zu liefern, die mit anderen Analysemethoden nicht leicht erreicht werden können. Die verfügbare Mehrpunktanalyse hilft auch bei der Beseitigung von Probenfehlern in ungleichmäßigen Materialien.

Grundparameter von SQX mit EZ-scan

Der EZ-Scan ermöglicht es dem Benutzer, unbekannte Proben ohne Voreinstellung XRF-Elemente zu analysieren. Die Zeitsparefunktion besteht aus nur wenigen Mausklicken und der Eingabe eines Musternamens. In Kombination mit der Grundparametersoftware SQX liefert es die genauesten und schnellsten XRF-Ergebnisse. SQX korrigiert automatisch alle Matrixeffekte, einschließlich Linienüberlappungen. SQX korrigiert auch die Sekundäranregung von Photoelektronen (Licht und ultraleichte Elemente), unterschiedlichen Atmosphären, Verunreinigungen und unterschiedlichen Probengrößen. Mit einer passenden Bibliothek und einem perfekten Scan-Analyseprogramm können Sie die Genauigkeit verbessern.

Eigenschaften

• Elementaranalyse von Be bis U

• ZSX Expertensystemsoftware

• Digitaler Multikanal-Analyzer (D-MCA)

• EZ-Analyseschnittstelle für regelmäßige Messungen

• Optik über der Rohrleitung minimiert Verschmutzungsprobleme

• Kleine Fläche und begrenzter Laborfläche

• Spuranalyse zur Analyse von Proben bis zu 500 μm

• 30 μm-Röhre bieten hervorragende Leichtkörperleistung

• Topografie/Verteilung der Elemente der Kartenfunktionen

• Heliumdichtung bedeutet, dass die Optik immer im Vakuum ist

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