Die XS11850 ist eine neue Generation von Kühlfaserspektrometern für die Messung des Raman-Spektrums von 785 nm.

Die gesamte Maschine ist mit dem S11850-Detektor ausgestattet und verfügt über die hohe Empfindlichkeit und Stabilität der Front-CCD. Der Detektor reagiert hervorragend im nahen Infrarot und erhöht die Empfindlichkeit der spektralen Reaktion im nahen Infrarotbereich.

Gleichzeitig verwendet das Gerät eine 2-stufige Kühlungskonstruktion, die durch TEC-Kühlung und physikalische Kühlung beide Wege verwendet wird, um den dunklen Geräusch des Instruments zu reduzieren und die Stabilität zu verbessern, die Kühlungswirkung von bis zu -10 ° C (nicht-relative Temperatur) erreichen kann, um eine lange integrale Raman-Spektrumessung zu erreichen (bis zu 65 s).

◆ XS11850 Frontkühldetektor für langintegrierte Stabilitätserkennung

◆ 2-Stufe-Kühldesign, die Kühlung bis zu -10 ° C (nicht relative Temperatur) erreichen kann

Spektralbereich: 790-1050 nm, Auflösung ca. 10 cm-1