Terahertz-Zeitbereichsspektrometer

Terahertz-Zeitbereichsspektrometer 13.12.2018 Charakterisierung von Graphen und 2D-Materialien Onyx ist ein System, das auf dem Markt entwickelt wurde, um eine regionale, nicht-destruktive Charakterisierung von Graphen, Folien und anderen 2D-Materialien zu bieten. Onyx schließt die Lücke zwischen Makro- und Nano-Werkzeugen und kann Eigenschaften von 0,5 mm2 bis zu großen Flächen (m2) erkennen, wodurch das Niveau der Industrialisierung von Forschungsmaterialien erhöht wird. Im Vergleich zu anderen großflächigen Testmethoden wie dem Viersonde-Verfahren ist Onyx in der Lage, die räumliche Verteilung der Probengüte zu messen. Im Gegensatz zu mikroskopischen Methoden wie Raman, SEM und TEM können große Proben schnell mit einer räumlichen Auflösung von Hunderten von Mikrometern charakterisiert werden. Mobilität und Trägerdichte Onyx verbessert seine Funktionalität kontinuierlich, um neue Ergebnisse zu liefern, die sein Potenzial erheblich erhöhen. Onyx integriert die Mobilität- und Trägerdichte-Analyse in seine früheren Funktionen. In nur einer Messung liefert das System die folgenden physikalischen Eigenschaften genau: Gleichstromleitung, σDC、 Gleichstromwiderstand, RDC、 Träger-Streuungszeit, Träger-Migration, μDrift