Park NX10 Atomkraftmikroskop

Ideale Wahl für innovative Forschung

Der Park NX10 liefert Ihnen hochpräzise Nano-Auflösungen, die Sie vertrauen, verwenden und besitzen können. Ob bei der Probeneinstellung oder der vollständigen Scan-Bildgebung, Messung und Analyse, der Park NX10 sorgt dafür, dass Sie sich auf innovative Forschungsarbeiten konzentrieren.Gleichzeitig werden hochgenaue Daten bereitgestellt.

Hochpräzise Messung

Geräuscharmer Z-Detektor kann die Oberflächenform des Atomkraftmikroskops genau messen

Genauer XY-Scan durch Beseitigung von Scannerstörungen

True Non-ContactTM-Modus für optimale Probenlebensdauer, hochauflösende Scans und Probenschutz

• individuell gestaltete Hardware- und Softwarefunktionen

Geräuscharmer Z-Detektor für das Park NX10 Atomkraftmikroskop

Der Z-Achsen-Detektor ist eine der Kerntechnologien der neuen NX-Serie von Atomkraftmikroskopen. Es ist der innovative Spannungssensor von Park. Mit einem geringen Geräuschdruck von 0,2 A ist der Sprung zum geräuscharmen Z-Achsdetektor in der Industrie geworden. Mit geringem Rauschen ist der Z-Achsen-Detektor als Standardmorphologisches Signal verfügbar, so dass die Unterschiede zwischen den neuen Atomkraftmikroskopen der NX-Serie und früheren Generationen leicht beobachtet werden können. Wenn der Geräusch des Z-Achsen-Detektors zu hoch ist, kann der Benutzer die Atomstufe des Sapphir-Chips nicht beobachten. Das Höhensignal des Z-Achsen-Detektors der Park NX-Serie von Atomkraftmikroskopen hat das gleiche Geräuschniveau wie die Z-Achsen-Spannung.

Einfacher Sonden- und Probenwechsel

Das proprietäre Design ermöglicht es Ihnen, neue Sonden und Proben von der Seite aus einfach mit der Hand zu ersetzen. Durch die Vorausrichtung der Ausleger in der Ausleger-Sondenklappe sind keine aufwendigen Laserkalibrierungsarbeiten mehr erforderlich.

Blitzschnelle automatische Nahnadel

Die automatische Probeneinsatzfunktion ermöglicht dem Benutzer keine Eingriffe. Durch die Überwachung der Reaktion des Arms in der Nähe der Oberfläche,Der Park NX10 startet innerhalb von zehn Sekunden nach der Auslastung und führt die Sondenprobeneingang automatisch und schnell ab. Der schnelle Informationsfeedback des Hochgeschwindigkeits-Z-Achse-Scanners und die geräuscharme Signalverarbeitung des NX Electronic Controllers ermöglichen eine schnelle Berührung der Probenoberfläche ohne Benutzereingriffe.

Technische Parameter des Park NX10

Scanner

Z-Scanner

Flexibel geführter Scanner mit hoher Antriebskraft

Scanbereich15 µm (optional 30 µm)
Hohe Signalräuschklasse: 30 Uhr
0,5 kHz Bandbreite, rms (typisch)

XY-Scanner

Flexible Führung durch geschlossene RegelungXY-Scanner

ScanbereichGröße: 50 µm × 50 µm
(可选10 µm × 10 µm 或 100 µm × 100 µm)

Antriebstisch

Z-Schiebereihe25 mm (motorisiert)
Fokussieren Sie sich auf den Reihenbereich des Probenteils15 mm (motorisiert)
XY-Fahrbereich: 20 mm x 20 mm (Motorisiert)

Probenhalter

Probengröße:Offener Raum bis zu 100 mm x 100 mm, 厚度 bis zu 20 mm
Probengewicht :< 500=''>

Optik

10-faches (0,23 N.A.) Objektiv für extrem lange Arbeitsdistanzen (1 µm Auflösung)
Intuitives Koaxialbild der Probenoberfläche und des Arms
Sicht480 × 360 µm (mit 10x Objektiv)
CCD: 1 Megapixel, 5 Megapixel (optional)

Software

SmartScan™

Spezielle Software für AFM-Systemsteuerung und Datenerfassung
Schnelle Einstellung und einfache Bildgebung des intelligenten Modus
Erweiterte Nutzung des manuellen Modus und präzisere Scansteuerung

XEI

AFM Datenanalyse-Software

Elektronik

Integrationsfähigkeit

4-Kanal-Digitalphasenverstärker
Kalibrierung des Elastizitätskoeffizienten(Wärme, optional)
DatenQ Kontrolle

Verbinden Sie externe Signale

20 eingebettete I/O-Ports
5 TTL-Ausgänge: EOF, EOL, EOP, Modulation und Wechselstrom