ZEISS Deutschland startet Scan-Elektronenmikroskop Sigma-Serie

Flexible Erkennung, 4-Schritt-Workflow, erweiterte Analyseleistung

Kombinieren Sie fortgeschrittene analytische Leistung mit Field-Launch-Scanning-Technologien und nutzen Sie die bewährten elektronischen optischen Komponenten von Gemini. Viele Detektoren sind verfügbar: zum Bildern von Partikeln, Oberflächen oder Nanostrukturen. Der halbautomatische 4-Schritt-Workflow von Sigma spart viel Zeit: Einrichten von Bildgebungs- und Analyseschritten für höhere Effizienz.

Flexible Detektion für klare Bildgebung

• Passen Sie Sigma auf Ihre Bedürfnisse an und charakterisieren Sie alle Proben mit fortgeschrittener Detektion.
  

• Verwenden Sie den in-lens Doppeldetektor, um Form- und Zusammensetzungsinformationen zu erhalten.
  

• Verwenden Sie die Sekundärdetektoren der neuen Generation, um bis zu 50% des Signalbildes zu erhalten. Mit den innovativen C2D- und variablen Druckdetektoren von Sigma können Sie scharfe Bilder mit bis zu 85 % Kontrast in einer niedrigen Vakuumumgebung im variablen Druckmodus erzielen.
  

Beschleunigung der Arbeitsabläufe durch Automatisierung

• Mit einem 4-Schritt-Workflow können Sie alle Funktionen von Sigma kontrollieren. In einer Multi-User-Umgebung können Sie zunächst von der schnellen Bildgebung und dem sparenden Training über die Probe navigieren und dann die Bildbedingungen festlegen.

• Navigieren Sie zuerst durch die Probe und stellen Sie dann die Bildbedingungen fest.
  

• Als nächstes werden die Bereiche von Interesse für die Probe optimiert und Bilder automatisch erfasst. Im letzten Schritt des Workflows werden die Ergebnisse visualisiert.
  

Fortgeschrittene analytische Mikroskope

• Kombination des Scan-Elektronenmikroskops mit der Grundanalyse: Die erstklassigen Rückstreuungsgeometrie-Detektoren von Sigma verbessern die Analyseleistung, insbesondere bei Proben, die auf Elektronenstrahlen empfindlich sind.

• Erhalten Sie Analysedaten bei halbem Messstrahl und doppelter Geschwindigkeit.

• Profitieren Sie von einem kurzen Analysebestand von 8,5 mm und einem Klemmwinkel von 35° für vollständige und schattenfreie Analyseergebnisse.
  

Basierend auf bewährter Gemini-Technologie

• Die Kombination der Gemini-Objektive berücksichtigt die Auswirkungen elektrischer und magnetischer Felder auf die optische Leistung und verringert die Auswirkungen der Felder auf die Probe. Dies ermöglicht es, auch bei der magnetischen Probenbildung hervorragende Ergebnisse zu erzielen.
  

• Gemini in-lens-Detektion gewährleistet die Effizienz der Signaldetektion und reduziert gleichzeitig die Bildzeit durch Sekundäre Detektion (SE) und Rückstreuung (BSE) Komponenten.
  

• Gemini Elektronenstrahlbeschleunigertechnologie sorgt für kleine Detektorgrößen und ein hohes Signal-Rausch-Verhältnis.

Flexible Detektion für klare Bildgebung

• Charakterisieren Sie alle Proben mit einer neuen Detektionstechnik.
  

• Mit den innovativen ETSE- und In-Lens-Detektoren erhalten Sie im Hochvakuummodus morphologische und hochauflösende Informationen.
  

• Verwenden Sie die Sekundärelektronen mit variablem Druck und C2D-Detektoren, um scharfe Bilder im Variablen Druckmodus zu erhalten.
  

• Erzeugen Sie mit aSTEM-Detektoren hochdurchlässige Bilder.
  

• Komponentenanalyse mit BSD- oder YAG-Detektoren.

Zubehör

SmartEDX

Eine integrierte Lösung für die Energiespektralyse

Wenn ein vollständiges Verständnis der Komponenten oder Proben nicht allein mit der SEM-Bildgebungstechnik möglich ist, müssen die Forscher ein Energiespektrometer (EDS) in SEM für die Mikroanalyse verwenden. Mit einer für Niederspannungsanwendungen optimierten Spektralösung erhalten Sie Informationen über die räumliche Verteilung der chemischen Zusammensetzung der Elemente. Profitieren Sie von:

• Optimiert für herkömmliche Mikroanalyseanwendungen und durch die ausgezeichnete Durchlässigkeit der Siliziumnitridfenster können geringenergieige Röntgenstrahlen von leichten Elementen detektiert werden.

• Die Workflow-gestützte grafische Benutzeroberfläche verbessert die Benutzerfreundlichkeit und die Wiederholbarkeit in einer Mehrbenutzerumgebung erheblich.

• Kompletter Service und Systemsupport von ZEISS-Ingenieuren für Ihre Installation, vorbeugende Wartung und Garantie.

Raman-Bildgebungs- und Scan-Elektroskopsystem

Vollständig integrierte Raman-Bildgebung

Fügen Sie Raman-Spektrum- und Bildgebungsergebnisse in Ihre Daten ein, um eine reichhaltigere Charakterisierung des Materials zu erhalten. Durch die Erweiterung des ZEISS Sigma 300 mit der Kofokussierungs-Raman-Bildgebung erhalten Sie in der Probe eindeutige chemische Fingerabdruckinformationen, die ihre Zusammensetzung identifizieren.

• Erkennung von molekularen und kristallinen Strukturinformationen

• Die 3D-Analyse ermöglicht die Verknüpfung von SEM-Bildern, Raman-Scan-Bildgebungen und EDS-Daten bei Bedarf.

• Die vollständig integrierte RISE ermöglicht es Ihnen, die Vorteile der fortschrittlichen SEM- und Raman-Systeme zu erleben.