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Peking Danqing Ruihua Technologie Co., Ltd.
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Lasermessgerät Dantsin-ZMIKE

VerhandlungsfähigAktualisieren am02/05
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Lasermessgerät Dantsin-ZMIKE
Produktdetails


Dantsin-ZMIKE Schreibtisch-Lasermessgerät

Hohe Messgenauigkeit, schnelle Messgeschwindigkeit, einzelne oder kontinuierliche Messungen für verschiedene Messanwendungen. Im Vergleich zu herkömmlichen kontaktförmigen Dimensionsmessungen verwendet BenchMike eine berührungsfreie Lasermessung.Vernunft. Technologien wie die automatische Erfassung, Verarbeitung und digitale Anzeige von Rohmessdaten reduzieren Fehler, die durch Messmethoden und Messpersonal verursacht werden. Dadurch wird die Messgenauigkeit verbessert. Schnittstellenfreundliche Display-Steuerungssoftware und eine Vielzahl von Schnittstellen
Für Daten und Kommunikation, um den Benutzer von schweren Messungen zu befreien. Insbesondere für einige weiche, zerbrechliche, strahlende und hohe Präzisionsanforderungen wie herkömmliche Kontaktmessbündel, die ohne Hilfe gemessen werden, BenchMikeSie können zufriedenstellende Messungen liefern.
Hauptmerkmale
Hohe Präzision und schnelle Messgeschwindigkeit. Für verschiedene Messanwendungen geeignet
Umfangreiche Messmodelle für verschiedene Messanwendungen
Die neue Datenverarbeitungstechnologie, die grafische Benutzeroberfläche (GUI) und die Tastenkombinationen machen die Messung intuitiver und einfacher zu bedienen.

Mit Messanwendungsbibliothek und Funktion zur selbstbearbeiteten Messung, mit speziellen Befestigungen und mehreren Eingängen / Ausgängen für eine gute Messerweiterung

Automatische Einpunkt- und Doppelpunktkalibrierung reduziert die Auswirkungen von Veränderungen der Bedingungen auf die Messung und erleichtert die Wartung der Messgeräte

MessprinzipMit dem Laserscannprinzip zur Messung, wie in der rechten Abbildung gezeigt, wird der Laser, der von der Lasererzeugungseinrichtung erzeugt wird, auf das motorgetriebene Hochgeschwindigkeits-Rotationsprisma eingestrahlt, um einen Standard-Scan-Parallelstrahl im Testbereich zu bildenDas gemessene Objekt im Testintervall blockiert den Schatten, der durch den Strahl gebildet wird, und bildet eine Stufe des Signals am Ende der optischen Sammlung. Die Stufenbreite und -position bestimmen den Durchmesser des gemessenen Objekts und andere Parameter im Testintervall.

Modell Messbereich Wiederholbarkeit Linearer Fehler Messe Schnitthöhe Messe Schnitttiefe Lichtpunktgröße Scanlichtgeschwindigkeit

mm

von µm µm

mm

mm µm mal/Sekunde

4025S 0,10 - 25,4 ±0,30 ±0,90 56,1 ±1,5 x 25 125 100

4025G 0,10 - 25,4 ±0,13 ±0,50 56,1 ±1,5 x 25 125 100

4050S 0,25 - 50 ±0,50 ±1,50 77,5 ±3 x 50 250 100

4050G 0,25 - 50 ± 0,25 ± 0,76 77,5 ± 3 x 50 250 100

4100PS 2,50 - 100 ±0,30 ±0,8 -- -- 250 500

4120C 2,50 - 112 ± 0,50 ± 5,0 -- -- 250 500

4120F 0,25 - 115 ± 0,80 ± 5,0 -- -- 250 500

4120PS 0,25 - 115 ± 0,50 ± 3,8 -- -- 250 500

4130C 0,25 - 130 ± 0,80 ± 5,0 -- -- 250 500

2050 0.36 - 50 ±0.64 ±2.5 -- -- 250 5002100 1.30 - 100 ±1.50 ±6.4 -- -- 250 500


2140 0.76 - 140 ±5.00 ±20 -- -- 250 500