BX53-P Olympus Polarisationsmikroskop Parameter Bild Angebot

BX53-P Olympus Polarisationsmikroskop Parameter Bild Angebot

BX53-P Olympus Polarisationsmikroskop Parameter Bild AngebotHongtong Instrument bietet nationale Verkaufsangebote,

Das Olympus BX53-P Polarisationsmikroskop mit der Kombination der optischen Konstruktion UIS2 Infinite Distance Correcting Optics und* bietet die Leistung bei Polarisationsanwendungen. Der skalierbare Kompensator bietet dem BX53-P ausreichend Funktionalität, um Beobachtungs- und Messanwendungen in allen relevanten Bereichen zu bewältigen.

UIS2Optische Komponenten bieten hervorragende Skalierbarkeit

Die Vorteile des Olympus Polarisationsmikroskops BX53-P mit unendlicher Fernkorrektur Das optische System UIS2 verhindert eine Beeinträchtigung der Leistung des optischen Mikroskops und beseitigt die Auswirkungen auf die optische Vergrößerung des Mikroskops, auch wenn Polarisationselemente wie Polarisationsscheiben, Paletten oder Kompensatoren in den Lichtweg eingesetzt werden. Beim Beibehalten eines hohen Maßes an Systemflexibilität ist der BX53-P auch kompatibel mit dem Zwischenzubehör der Systemmikroskope der Serie BX3 sowie mit Kameras und Bildsystemen.

Bandförmige Struktur von schrägen Steinen im Quarzfließenden Stein. * Die Linie zeigt die tatsächliche Größe der Probe an

MBBAOptische Struktur * Die Linie zeigt die tatsächliche Größe der Probe an

Verbesserung der Polarisationseigenschaften

ACHN-PDie in den UPLFLN-P-Objektiven verwendeten feinen Konstruktions- und Fertigungstechniken werden nahtlos mit dem Mikroskop kombiniert. Das Polarisationsmikroskop BX53-P ist mit einem hohen EF-Filter in den Startpolarisatoren und Prüfpolarisatoren ausgestattet und bietet einen* Bildkontrast. Um den vielfältigen Anforderungen der Forschung und Anwendungen gerecht zu werden, sind die universalen Objektive der UPLFLN-P-Serie für eine Vielzahl von Beobachtungsmethoden ausgelegt, einschließlich der Nomarski DIC- und Fluoreszenzmikroskopie sowie der Polarisationsbeobachtung.(Quelle: Consistent Instruments)
* EF(Dämpfungskoeffizient) ist das Helligkeitsverhältnis zwischen Parallel- und Querpolarisierungsfiltern. Je höher der EF-Wert ist, desto besser ist die Lichtdämpfungswirkung.

Vielfältige Kompensatoren

Der Olympus BX53-PDas Mikroskop kann mit sechs verschiedenen Kompensatoren eine Vielzahl von Verzögerungen im Bereich von 0 bis 20 λ messen. Um die Messung zu erleichtern, wird auch eine direkte Messmethode angeboten. Mit Senarmont* oder Brace-Koehler Kompensatoren können höhere Bildkontraste erzielt werden, um das Verzögerungsniveau im gesamten Sichtfeld zu ändern.
* Mit grünen Filtern IF 546 oder IF 550.

Verbesserung der Polarisationseigenschaften

ACHN-PDie in den UPLFLN-P-Objektiven verwendeten feinen Konstruktions- und Fertigungstechniken werden nahtlos mit dem Mikroskop kombiniert. Das Polarisationsmikroskop BX53-P ist mit einem hohen EF-Filter in den Startpolarisatoren und Prüfpolarisatoren ausgestattet und bietet einen* Bildkontrast. Um den vielfältigen Anforderungen der Forschung und Anwendungen gerecht zu werden, sind die universalen Objektive der UPLFLN-P-Serie für eine Vielzahl von Beobachtungsmethoden ausgelegt, einschließlich der Nomarski DIC- und Fluoreszenzmikroskopie sowie der Polarisationsbeobachtung.(Quelle: Consistent Instruments)
* EF(Dämpfungskoeffizient) ist das Helligkeitsverhältnis zwischen Parallel- und Querpolarisierungsfiltern. Je höher der EF-Wert ist, desto besser ist die Lichtdämpfungswirkung.

Vielfältige Kompensatoren

Der Olympus BX53-PDas Mikroskop kann mit sechs verschiedenen Kompensatoren eine Vielzahl von Verzögerungen im Bereich von 0 bis 20 λ messen. Um die Messung zu erleichtern, wird auch eine direkte Messmethode angeboten. Mit Senarmont* oder Brace-Koehler Kompensatoren können höhere Bildkontraste erzielt werden, um das Verzögerungsniveau im gesamten Sichtfeld zu ändern.
* Mit grünen Filtern IF 546 oder IF 550.

Verbesserung der Polarisationseigenschaften

ACHN-PDie in den UPLFLN-P-Objektiven verwendeten feinen Konstruktions- und Fertigungstechniken werden nahtlos mit dem Mikroskop kombiniert. Das Polarisationsmikroskop BX53-P ist mit einem hohen EF-Filter in den Startpolarisatoren und Prüfpolarisatoren ausgestattet und bietet einen* Bildkontrast. Um den vielfältigen Anforderungen der Forschung und Anwendungen gerecht zu werden, sind die universalen Objektive der UPLFLN-P-Serie für eine Vielzahl von Beobachtungsmethoden ausgelegt, einschließlich der Nomarski DIC- und Fluoreszenzmikroskopie sowie der Polarisationsbeobachtung.(Quelle: Consistent Instruments)
* EF(Dämpfungskoeffizient) ist das Helligkeitsverhältnis zwischen Parallel- und Querpolarisierungsfiltern. Je höher der EF-Wert ist, desto besser ist die Lichtdämpfungswirkung.

Vielfältige Kompensatoren

Der Olympus BX53-PDas Mikroskop kann mit sechs verschiedenen Kompensatoren eine Vielzahl von Verzögerungen im Bereich von 0 bis 20 λ messen. Um die Messung zu erleichtern, wird auch eine direkte Messmethode angeboten. Mit Senarmont* oder Brace-Koehler Kompensatoren können höhere Bildkontraste erzielt werden, um das Verzögerungsniveau im gesamten Sichtfeld zu ändern.
* Mit grünen Filtern IF 546 oder IF 550.

Scharfe Bilder in der Ortogonal- und Kegelbildgebung

Mit dem U-CPA-Kegeloptik-Beobachtungszubehör ist der Wechsel zwischen orthogonaler Polarisation und Kegeloptik-Beobachtung einfach und schnell. Die Fokussierung der Kegelbildgebung ist einfach und präzise. Der Einsatz von Blickfeld-Appendixen ermöglicht es, scharfe und klare Lichtbilder zu erhalten.

1. U-CPA, 2. U-P4RE, 3. U-AN360P-2, 4. U-OPA, 5. U-POC-2

Robuste und präzise Drehträger

Das Rotationspaar-Mittelgerät des Olympus Polarisationsmikroskops BX53-P auf dem Drehträger ermöglicht eine reibungslose Drehung der Probe. Um genaue Messungen durchzuführen, gibt es zudem alle 45 Grad eine Klick-Stopp-Einrichtung. Wenn eine doppelte mechanische Tragstelle hinzugefügt wird, können auch kleine Bewegungen des X-Y weiter abgeschlossen werden.