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Einladungsschreiben | GIF Continuum with Stela — Fortgeschrittene EELS und Energiefilterung 4D STEM-Workshop auf Basis von gemischter Pixel-Erkennung
Datum:2025-11-10Lesen Sie:5
GIF Continuum with Stela — Fortschrittliche EELS und 4D STEM-Workshops zur Energiefilterung auf Basis von gemischter Pixel-Erkennung
Quantental der Wissenschaftsakademie der Provinz Henan
Dienstag, 25. November 2025, 09:30 - 17:00 Uhr
Der Hybrid Pixel Detector (wie die Gatan Stela Kamera) ist eine neue Elektronikdetektionstechnologie, die sich in den letzten Jahren schnell entwickelt und in der Elektronikmikrografie eingesetzt hat. Mit Vorteilen wie hoher Geschwindigkeit, hohem Dynamikbereich und hoher Empfindlichkeit sind Hybridpixeldetektoren ideal für Anwendungen wie MicroED(3DED) und 4D STEM. Auf dieser Grundlage hat Gatan den Hybrid-Pixel-Detektor erfolgreich in das Elektronische Energieverlustspektrum und das Energiefiltersystem GIF Continuum with Stela integriert und eingesetzt, um die Vorteile der Hybrid-Pixel-Detektion mit der Energiefilterung zu kombinieren, um die Diffraktionsbildforschung der Energiefilterung zu ermöglichen, die ungünstige Auswirkungen der nicht-elastischen Streuung auf die Ergebnisse auszuschließen, die Klarheit, das Signal-Rausch-Verhältnis und das Detail der Diffraktionsplatte / Diffraktionsplatte zu verbessern, die Rohdaten von höherer Qualität zu liefern, die Ergebnisse der Strukturanalyse und die Erfolgsquote der Analyse zu verbessern.
Das GIF Continuum with Stela System ist nicht nur ein Instrument für die Diffraktionsforschung, es ist ebenso wichtig, dass es einen qualitativen Sprung in der Charakterisierung der Energieverlustspektroskopie (EELS) ermöglicht. GIF Continuum with Stela verfügt über eine Stela-Kamera mit 1024 * 512 Pixeln, die eine detailreiche und nahezu geräuschfreie Spektralerfassung mit einer hohen Geschwindigkeit von bis zu 9.000 Spektren pro Sekunde ermöglicht. Im Vergleich zu herkömmlichen Blinken-Körper-Faser-Koppelkameras können Sie eine Vielzahl von Proben verarbeiten, von herkömmlichen Proben bis hin zu Systemen wie Elektronenstrahlempfindliche Oxide, Polymere, Molekülsiebe und andere bestrahlungsresistente Systeme, um bislang nicht gesehene Informationen über hohe räumliche Auflösung und hohe Signal-Rausch-Verhältnisse zu erhalten, einschließlich hoher Energie-Kernverlustsignale mit kleinen nicht-elastischen Streuungsabschnitten. Dies verbessert die Qualität und die Effizienz der EELS-Charakterisierung erheblich und eröffnet neue Möglichkeiten für die Forschung von Materialien und Systemen, die herkömmlich schwierig sind, mit hoher räumlicher Auflösung unter
Die Vorteile der Mischpixeldetektion in Kombination mit Energiefilterung bei EELS und Diffraktionscharakterisierung umfassen unter anderem:
Erfassung feiner EELS-Spektralstrukturen für hochdetailreduktion
Spektrische Analyse von strahlungsempfindlichen Proben bei niedrigen Dosen
EELS-Flächenverteilungsanalyse mit hoher Geschwindigkeit für große Flächen mit hoher räumlicher Auflösung
Erhalten Sie in situ EELS-Spektrifizierungsinformationen zur zeitlichen Auflösung
Multi-Frame-kumulative Dosis-Split-Surface-Scan für weniger Strahlenschäden und bessere Drift-Korrektur
4D STEM Datenerfassung mit hohem Signal-Rausch-Verhältnis für Energiefilterung
MicroED-Datenerfassung mit Energiefilterung für eine präzisere Kristallstruktur
Und noch mehr...
Durch dieses persönliche technische Seminar, das aus technischen Prinzipien, Anwendungsfällen und praktischen Erfahrungen auf Bord besteht, werden Sie intuitiv erfahren, welche Leistungsverbesserungen ein GIF/EELS-System mit hybrider Pixel-Erkennungstechnik zur Mikrozonenanalyse der Elektroskopie unter (S)TEM bringen kann. Dieses Seminar besteht aus einladenden akademischen Berichten, technischen Berichten und Präsentationen auf Bord, wobei der Teil auf dem JEOL JEM-ARM300F2 mit Gatan GIF Continuum with Stela durchgeführt wird. Das System ist ebenfalls mit herkömmlichen Blinkenkameras ausgestattet, so dass Sie unter den gleichen Beleuchtungs- und Erfassungsbedingungen eine deutliche Verbesserung der Spektralqualität unter gemischten Pixelkameras im Vergleich zu herkömmlichen Kameras sehr intuitiv sehen können, insbesondere bei Proben mit Elektronenstrahlenbeständigkeit, die die spektroskopische Information der Probe mit kleineren Elektronendosen bei geringeren Strahlungsschäden erhalten können.
01 Zeit & Ort
Dienstag, 25. November 2025, 09:30 - 17:00 Uhr
Zentrum für Elektroskopie des Instituts für Quantenmaterialien und Physik der Akademie der Wissenschaften der Provinz Henan
Zhengzhou City Guocheng Hui District Hanyue Street 26, Zhongyuan Quantum Valley (in der Nähe von Zhengzhou East Station)
02 Zeitplan
03 Melden Sie sich an
Für die Teilnahme an diesem Seminar sind keine Gebühren berechnet, bitte arrangieren die Teilnehmer den Transport und die Reise selbst.
Wir freuen uns auf Ihre Teilnahme und freuen uns, mit Ihnen weiter zu kommunizieren, um uns zu helfen, Ihre Bedürfnisse und Herausforderungen in der Elektronikmikrografie besser zu verstehen!
Bitte melden Sie sich bei Ihrem Vertriebsvertreter in Ihrer Region an oder scannen Sie den folgenden QR-Code:
Ein typisches Energieverlustspektrum von Stela-Kameras mit einem monospektralen Energiebereich von 1500 eV, von niedrigen bis hohen Energieelementen mit einem optimalen Signal-Rausch-Verhältnis und einer hohen Energieauflösung.
Vergleich der Qualität des CBED-Musters vor und nach der GIF-Energiefiltration (Elastic Electronic Imaging).
Besonderen Dank:
Die wissenschaftliche Akademie der Provinz Henan, das Institut für Quantenmaterialien und Physik unterstützten dieses technische Seminar und Prof. Cheng Xiaobo brachten einen wunderbaren akademischen Austausch!